報告內容摘要
本計畫至德國參訪之目的在於了解植物表型領域之最新進展,以更有效地將數據轉化為有意義的育種性狀,並將其經驗應用於國內的表型系統。有關微觀及根系表型分析部分,參訪洪堡大學陳祖威教授團隊,進行微觀氣孔特徵研究與深度學習技術交流,並實際進行高通量根系表型系統(rhizotron)之資料分析,探討植物的根系交感作用。在表型體先進設施及相關應用部分,參訪了萊布尼茲植物研究所(IPK),包含全球最大的IPK種原庫、PhenoSphere表型設施、各種規模的輸送帶表型系統,以及微觀表型實驗室。此次學術參訪深入了解國際先進的植物表型分析技術,借鏡並研習國際表型體領域之研究經驗,以期提升國內植物表型體分析技術層級及其應用廣度。
本網站以任何媒體呈現之所有內容包括文字、音訊、視訊及版面設計,著作權屬國家發展委員會,任何形式之轉載或有關網站利用問題,請與我們聯絡。
如對本站有任何問題或意見,歡迎聯絡客服,電話:(02)23956966分機3980,
聯絡信箱、國家發展委員會連絡窗口,電話:02-2316-5300分機6653,
聯絡信箱
國家發展委員會地址:10020台北市中正區寶慶路3號,電話:02-2316-5300
隱私權及安全政策
國家發展委員會
RSS訂閱