各位前辈, 本菜鸟刚开始学习TEM,前段时间刚做过测试,也读过相关贴子,还存在疑问,想请教各位;

1: 晶格条纹间隔测定, 按照FFT转换后,测定衍射斑点到中心透射斑点之间的距

离为R, 则晶面间距即为1/R,但是再FFT界面尺寸单位为1/nm,而在晶格条纹

图像界面尺寸为10nm, 那么,我测得的距离能否由DM测出来?

2: 关于角度的测量,感谢其他贴子的帮助
"【经验】普通衍射花样和高分辨晶格像的标定"

角度测量可以通过量取衍射点到中心斑连线对应control对话框的R值（角度），二者相减即得。

但是control对话框无法正确显示, 说

No Camera Controller was found. Make sure:
1. The Camera Controller is turned on.
2. The cable is connected from the DMA Card to the Camera Controller.

恳请高人指点迷津! 十分二分感谢!

感谢drizzlemiao回复

不好意思,首次求助,没讲清楚,呵呵,是这样的:

[1] 将晶格条纹图像采用FFT变换以后,得到FFT图像,所得到FFT的标尺可由edit

add scal maker显示,单位为1/nm,那么为求的晶面间距,所以量的两衍射斑

点之间距离. 根据标尺长度/电子尺测得值与所测R值/电子尺测得值之间比

例关系,求得相对于标尺的R值(单位1/nm).不知是否是这样求得? 然后根据

d = L*电子波长/R 求出晶面间距.

不知另外异种想法对不?  采用FFT变换后,再反过来做inverse FFT,得到

晶格条纹像,当然这要比原来的晶格条纹清楚,量出晶格间距.二者进行比较

[2] 另外还想请教您一个问题: 晶面角度测量如何实现? 如附件,
自己加标尺的图像导出时往往没有标尺,不知该如何导出?
初学,还请不吝赐教!
再次表示感谢!